Μετρήσεις πάχους διαστάσεων νανοτεχνολογίας

Μπλάτσος, Κωνσταντίνος

dc.contributor.advisor	Ganetsos, Theodore
dc.contributor.author	Μπλάτσος, Κωνσταντίνος
dc.date.accessioned	2023-09-12T11:40:14Z
dc.date.available	2023-09-12T11:40:14Z
dc.date.issued	2023-06
dc.identifier.uri	https://polynoe.lib.uniwa.gr/xmlui/handle/11400/5057
dc.identifier.uri	http://dx.doi.org/10.26265/polynoe-4895
dc.description.abstract	Οι μετρήσεις διάφορων φυσικών μεγεθών ήταν πάντοτε κάτι που απασχολούσε τον άνθρωπο από τα πρώτα ακόμη χρόνια για να κατασκευάσει τα πρώτα του εργαλεία. Η προσπάθεια να επιτύχει όσο δυνατόν καλύτερη ακρίβεια στις μετρήσεις του ήταν πάντα παρούσα. Στη σύγχρονη εποχή η ακρίβεια των μετρήσεων σε πολλούς τομείς ειδικά της βιομηχανίας είναι απαιτούμενη και παίζει μεγάλο ρόλο στην τελική επιτυχία. Όταν το αντικείμενο του οποίου θέλουμε να μετρήσουμε τις διαστάσεις είναι μικρό σε μέγεθος και ευαίσθητο πρέπει να βρούμε διάφορους τρόπους μέτρησης οι οποίοι θα μας δίνουν ακρίβεια δίχως να προκαλούν φθορές στο αντικείμενο που μετράμε. Η συγκεκριμένη διπλωματική εργασία ασχολείται με την μέτρηση πάχους διαστάσεων νανοτεχνολογίας. Οι μετρήσεις έγιναν σε λεπτά φιλμ (υμένια) με τεχνικές μη καταστροφικής μετρολογίας, πιο συγκεκριμένα με φασματοσκοπία αντανάκλασης λευκού φωτός. Παρουσιάζεται ο τρόπος λειτουργίας του μηχανήματος με το οποίο έγιναν οι μετρήσεις και εξετάζεται η ακρίβεια των αποτελεσμάτων των μετρήσεων. Η εργασία ολοκληρώνεται με την καταγραφή συμπερασμάτων και πλεονεκτημάτων που έχει αυτός ο τρόπος μέτρησης.	el
dc.format.extent	46	el
dc.language.iso	el	el
dc.publisher	Πανεπιστήμιο Δυτικής Αττικής	el
dc.rights	Αναφορά Δημιουργού - Μη Εμπορική Χρήση - Παρόμοια Διανομή 4.0 Διεθνές	*
dc.rights	Αναφορά Δημιουργού 4.0 Διεθνές	*
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/	*
dc.subject	Nanotechnology	el
dc.subject	Νανοτεχνολογία	el
dc.subject	Υμένιο	el
dc.title	Μετρήσεις πάχους διαστάσεων νανοτεχνολογίας	el
dc.title.alternative	Nanotechnology thickness measurements	el
dc.type	Μεταπτυχιακή διπλωματική εργασία	el
dc.contributor.committee	Laskaris, Nikolaos
dc.contributor.committee	Drosos, Christos
dc.contributor.faculty	Σχολή Μηχανικών	el
dc.contributor.department	Τμήμα Μηχανικών Βιομηχανικής Σχεδίασης και Παραγωγής	el
dc.contributor.master	Αυτοματισμός Παραγωγής και Υπηρεσιών	el
dc.description.abstracttranslated	Since the beginning of civilization, when humans started constructing their first tools, humanity has always been concerned with size measuring in nature. One basic goal has always been to be as accurate as possible. During modern times measurement accuracy in many industrial fields is required and matters considerably as far as the final outcome is concerned. When the object, whose dimensions we wish to measure, is small in size and made out of sensitive material we are forced to find different measurement methods which will ensure accuracy without damaging the object under consideration. The specific paper examines nanotechnology thickness dimension measurements. The measurements were conducted using thin films employing non damaging measuring techniques, and more specific white light reflectance spectroscopy. The operating functions of the machine employed in the measurements are presented along with the accuracy of the measurement results. The paper concludes by reporting the outcomes and the advantages of the specific measurement method.	el

Files in this item

Name:: ΔΙΠΛΩΜΑΤΙΚΗ ΕΡΓΑΣΙΑ ΜΠΛΑΤΣΟΣ ...
Size:: 2.173Mb
Format:: PDF

View/Open

This item appears in the following Collection(s)

Μεταπτυχιακές διπλωματικές εργασίες - Αυτοματισμός Παραγωγής και Υπηρεσιών
Μεταπτυχιακές διπλωματικές εργασίες ΠΜΣ Αυτοματισμός Παραγωγής και Υπηρεσιών

Show simple item record

Except where otherwise noted, this item's license is described as
Αναφορά Δημιουργού - Μη Εμπορική Χρήση - Παρόμοια Διανομή 4.0 Διεθνές