Κεφαλομετρική ακτινογραφία : Βασικές αρχές - Γεωμετρία - Κριτήρια αξιολόγησης - Ψευδενδείξεις - Μετρήσεις/Ανάλυση

Κατσουλιέρης, Μάριος

Cephalometric x-ray: Basic principles-Geometry-Evaluation criteria-False indications-Measurements/Analysis

Μεταπτυχιακή διπλωματική εργασία

Author

Κατσουλιέρης, Μάριος

Date

2024-12-11

Advisor

Παπαβασιλείου, Περικλής

Βιβλιογραφική έρευνα (1.384Mb)

Keywords

Κεφαλομετρία ; Κεφαλομετρική ανάλυση ; Κεφαλομετρική ακτινογραφία ; Κεφαλοστάτης ; Ορθοδοντική

Abstract

Η πλάγια κεφαλομετρική ακτινογραφία αποτελεί απεικονιστική εξέταση που πραγματοποιείται με την χρήση ακτίνων Χ για την απεικόνιση κατά κύριο λόγο του προσωπικού κρανίου και χρησιμοποιείται κυρίως στον τομέα της ορθοδοντικής. Στην παρακάτω βιβλιογραφική έρευνα αναλύονται βασικές αρχές ανατομίας, η διαδικασία τοποθέτησης και πραγματοποίησης της εξέτασης, τα βασικά στοιχεία της κεφαλομετρικής ανάλυσης, καθώς και πιθανά σφάλματα που μπορεί να προκύψουν κατά την διάρκεια της λήψης καθώς και της ανάλυσης.

Abstract

The lateral cephalogram is an imaging technique that uses X rays to depict the facial part of the skull and is used mainly in the field of orthodontics. The following essay presents the basic principles of anatomy, the process of positioning and imaging, the basics of cephalometric analysis as well as potential errors that might occur during the imaging or analysis phase.