Show simple item record

Προσομοίωση λειτουργίας κυκλωμάτων υλικού για την παραγωγή διανυσμάτων δοκιμής σε τεχνικές SCAN

dc.contributor.advisorΒογιατζής, Ιωάννης
dc.contributor.authorΟυλής, Ευάγγελος
dc.date.accessioned2022-04-18T11:29:00Z
dc.date.available2022-04-18T11:29:00Z
dc.date.issued2022-03-04
dc.identifier.urihttps://polynoe.lib.uniwa.gr/xmlui/handle/11400/2147
dc.identifier.urihttp://dx.doi.org/10.26265/polynoe-1998
dc.description.abstractΣτην παρούσα διπλωματική εργασία σχεδιάστηκαν σχήματα κυκλωμάτων με σκοπό την παραγωγή διανυσμάτων δοκιμής. Η διαδικασία του ελέγχου ενός ηλεκτρονικού κυκλώματος είναι σημαντική και σε αρκετές εφαρμογές κρίσιμη. Το ζήτημα αυτό φέρει την ανάγκη ότι η διαδικασία αυτή δεν πρέπει να είναι χρονοβόρα. Ταυτόχρονα, πρέπει κάθε σύστημα ελέγχου να εξασφαλίζει ότι οι ηλεκτρονικές συσκευές δεν θα διατίθενται στην αγορά, όταν αυτές παρουσιάζουν σφάλματα κατά την λειτουργία τους. Στα πλαίσια της εργασίας, έχουν εκτελεστεί πειράματα με τε την μέθοδο προσομοιώσεων, για κάθε κύκλωμα που υλοποιήθηκε. Οι προσομοιώσεις έγιναν για την αξιολόγηση της ικανότητας κάθε σχήματος, να πετυχαίνει ένα «ιδανικό» ποσοστό ευρετικότητας των σφαλμάτων που μπορούν να παρουσιαστούν σε κάθε κύκλωμα ISCAS ‘89. Ακόμα, για τις ανάγκες της εργασίας αναπτύχθηκε προσομοιωτής ο οποίος υλοποιεί την λειτουργία όλων των προτεινόμενων σχημάτων. Ο προσομοιωτής αναπτύχθηκε από τον συντάκτη της εργασίας χρησιμοποιώντας τη γλώσσα προγραμματισμού C. Τέλος, παραθέτουμε κάποιες τυπικές συγκρίσεις με μετρήσεις σχημάτων που παρατίθενται στην προτεινόμενη βιβλιογραφία της εργασίας.el
dc.format.extent58el
dc.language.isoelel
dc.publisherΠανεπιστήμιο Δυτικής Αττικήςel
dc.rightsΑναφορά Δημιουργού - Μη Εμπορική Χρήση - Παρόμοια Διανομή 4.0 Διεθνές*
dc.rightsΑναφορά Δημιουργού - Μη Εμπορική Χρήση - Παρόμοια Διανομή 4.0 Διεθνές*
dc.rightsΑναφορά Δημιουργού - Μη Εμπορική Χρήση - Παρόμοια Διανομή 4.0 Διεθνές*
dc.rightsΑναφορά Δημιουργού - Μη Εμπορική Χρήση - Παρόμοια Διανομή 4.0 Διεθνές*
dc.rightsΑναφορά Δημιουργού - Μη Εμπορική Χρήση - Παρόμοια Διανομή 4.0 Διεθνές*
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/*
dc.subjectScan designel
dc.subjectNFSRel
dc.subjectHardware testingel
dc.subjectCircuit testingel
dc.subjectΈλεγχος ηλεκτρονικών κυκλωμάτωνel
dc.titleΠροσομοίωση λειτουργίας κυκλωμάτων υλικού για την παραγωγή διανυσμάτων δοκιμής σε τεχνικές SCANel
dc.title.alternativeHardware circuits simulation for test pattern generation using SCAN designel
dc.typeΔιπλωματική εργασίαel
dc.contributor.committeeΦατούρος, Σταύρος
dc.contributor.committeeΓιαννακόπουλος, Παναγιώτης
dc.contributor.facultyΣχολή Μηχανικώνel
dc.contributor.departmentΤμήμα Μηχανικών Πληροφορικής και Υπολογιστώνel
dc.description.abstracttranslatedOn this paper were designed circuit models in order to produce test patterns. The testing of an electronic circuit is important and critical on some cases. Because of there are some applications are critical, testing should not be time consuming. At the same time, a testing system should ensure that an electronic device should not be available on the market, when they contain errors in their operation. Within this paper, some experiments have been performed in the context of simulations. Simulations were presented in order to evaluate an ideal of fault coverage on ISCAS ‘89 circuits. Also, in order to perform these simulations on each schema, was developed a simulator that can simulate each schema. The simulator developed using C programming language. In the final analysis, we quote some typical comparations between schemas that are presented on suggested bibliography.el


Files in this item

Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail
Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record

Αναφορά Δημιουργού - Μη Εμπορική Χρήση - Παρόμοια Διανομή 4.0 Διεθνές
Except where otherwise noted, this item's license is described as
Αναφορά Δημιουργού - Μη Εμπορική Χρήση - Παρόμοια Διανομή 4.0 Διεθνές